CAM/CAD和测试软件开发--深圳志和诚科技有限公司

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CAM测试作为半导体器件性能评估的核心手段，其关键技术方法的发展对推动芯片质量检测进步具有重要意义。当前，随着半导体技术向更高可靠性、更复杂工艺方向演进，CAM测试的技术体系不断优化，涵盖信号设计与

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打造CAD测试智能化优化路径是衔接测试规范与智能技术应用的生产实践指引内容，其涵盖路径核心、优化方向、实施策略、价值效果、落地保障等维度的系统内容，系统化的路径核心与优化方向内容可清晰呈现智能化优化

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（书院总院）责编 吴斌